材料的缺陷会增加复杂性,甚至限制其实用性。一项新研究则发现,材料的缺陷可以作为探索深层次物理世界的入口。
研究于1月20日发表于《科学》上,标题为“Trapped fractional charges at bulk defects in topological insulators”(拓扑绝缘体表体缺陷处的截留分数电荷),通讯作者为伊利诺伊大学机械科学与工程系的巴尔(Gaurav Bahl)。
研究团队开发了一种新技术,基于将超材料的实验测量转化为电子电荷的语言,用于识别具有拓扑特征的绝缘体。他们还更进一步,利用材料结构中的缺陷,捕获了一个相当于真实材料中分数电荷的特征。
译/前瞻经济学人APP资讯组
参考资料:
[1]https://www.sciencedaily.com/releases/2021/01/210122102017.htm
[2]https://www.nature.com/articles/s41586-020-03117-3
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